基于鏡像對稱參考切片的多掃描鏈測試數據壓縮方法

鄺繼順 劉杰鏜張 亮

(湖南大學信息科學與工程學院 長沙 410082)

基于鏡像對稱參考切片的多掃描鏈測試數據壓縮方法

鄺繼順 劉杰鏜*張 亮

(湖南大學信息科學與工程學院 長沙 410082)

為了減少測試數據和測試時間，該文提出一種基于鏡像對稱參考切片的多掃描鏈測試數據壓縮方法。采用兩個相互鏡像對稱的參考切片與掃描切片做相容性比較，提高了相容概率。若掃描切片與參考切片相容，只需要很少的幾位編碼就可以表示這個掃描切片，并且可以并行載入多掃描鏈；若不相容，參考切片被該掃描切片替換。提出一種最長相容策略，用來處理掃描切片與參考切片同時滿足多種相容關系時的選取問題。根據Huffman編碼原理確定不同相容情況的編碼碼字，可以進一步提高測試數據的壓縮率。實驗結果表明所提方法的平均測試數據壓縮率達到了69.13%。

測試數據壓縮；多掃描鏈；相容性；參考切片；掃描切片

1 引言

隨著現代工業技術的不斷發展，數字電路的集成度越來越高，單個芯片上集成的知識產權核(Intellectual Property, IP)越來越多、功能越來越復雜。測試在確保芯片的質量方面起了至關重要的作用。在測試過程中，為了保證較高的測試故障覆蓋率，需要大量的測試數據，對自動測試設備(Automatic Test Equipment, ATE)的存儲容量要求越來越高。測試數據壓縮能有效減少需要存儲的數據量，降低對ATE存儲容量和帶寬的要求。隨著電路規模越來越大，被測電路(Circuit Under Test, CUT)的測試掃描鏈越來越長，單掃描鏈結構需要的測試時間也隨之增加。多掃描鏈結構是將一條長的單掃描鏈分割成多條相對較短的掃描鏈，使測試數據能夠并行載入掃描鏈，從而大大地減少測試時間。因此基于多掃描鏈結構的測試數據壓縮是解決存儲容量和測試時間的有效方法之一。

測試數據壓縮分為激勵壓縮和響應壓縮，本文主要研究測試激勵壓縮。測試激勵壓縮方法總體可以分為3類：基于線性解壓結構的壓縮方法、基于廣播掃描的壓縮方法和基于編碼的壓縮方法[1]。目前基于編碼的壓縮方法有很多，如FDR碼[2]、可變長Huffman編碼(VIHC)[3]、最優選擇Huffman編碼(OSHC)[4]、共游程碼[5]和一位標識混合編碼[6]。這些編碼方法都有較好的數據壓縮率，但是一般只針對單掃描鏈的CUT。然而現代的片上系統(SoC)大都采用多掃描鏈結構設計，因此又有一些適用于多掃描鏈結構的編碼壓縮方法被提出，如基于字典壓縮的方法[7?9]、掃描切片重疊壓縮方法[10,11]等。同時為了減少測試功耗，近年來不斷有學者提出一些新的壓縮方法和結構[12?14]。

掃描切片重疊壓縮方法[10]是利用掃描切片的相容性來縮減測試數據。該方法只采用了單一的參考切片，因此參考切片的替換頻率較高，限制了壓縮率的提高和測試時間的減少。本文提出了一種基于鏡像對稱參考切片的多掃描鏈數據壓縮方法，采用了兩個相互鏡像對稱的參考切片，可以提高掃描切片與參考切片的相容概率，減少參考切片的替換頻率。雖然鏡像對稱參考切片在編碼時需要增加額外的編碼碼字，但是能夠提高相容的概率，對于掃描鏈條數很多的現代SoC而言，這種方法能有效提高測試數據壓縮率。為了敘述方便，將本壓縮方法稱為MSRS(Mirror Symmetry Reference Slices)方法。

2 MSRS方法設計

掃描切片重疊是指相鄰掃描切片之間滿足相容關系。兩個N位的掃描切片(u1,u2,…,uN)和(v1,v2,…,vN)正向相容，當且僅當ui和vi的值相同或者它們中至少有一個是X位。如圖1所示，測試向量包含10個掃描切片。每個切片包含4位。在原始掃描切片中第1個切片和第2個切片分別為{{1 X X 1}，{X X 1 1}}，這兩個切片滿足相容條件，因此這兩個掃描切片重疊。統計發現一些ISCAS'89基準電路的MINTEST測試集中都含有大量的X位，所以掃描切片重疊的概率可能很高。掃描切片重疊壓縮方法就是根據這一特點而提出的壓縮方法。

圖1 測試向量切片重疊

圖2 掃描切片重疊結構

如果出現連續的掃描切片重疊，則一個快速將掃描切片移入掃描鏈的方法就是將重疊的第1個掃描切片串行輸入到增加的外部掃描切片中，并鎖定這個掃描切片。在接下來的時鐘周期，只需要從這個外加的掃描片中將數據并行輸入到內部掃描切片，這樣可以大大減少冗余的時鐘周期。該結構如圖2所示，內部4條掃描鏈并行連接到一個外部掃描切片上，這個外部掃描切片也稱之為參考切片。如果采用掃描切片重疊方法，對于圖1中填充后的掃描切片，第1個掃描切片串行載入參考切片，再把參考切片并行載入掃描鏈；第2，第3個掃描切片與參考切片相容，直接把參考切片并行載入掃描鏈。第4個掃描切片與參考切片不相容，因此先把第4個掃描切片串行載入外部掃描切片，替換上一個參考切片，再并行載入掃描鏈。第5，第6，第7個掃描切片可以直接把參考切片并行載入掃描鏈。整個測試集中的10個掃描切片只有3個切片需要串行載入參考切片，其他的都可以并行載入。

2.1 MSRS壓縮框架

MSRS方法中設置了兩個鏡像對稱的參考切片，掃描切片可以同時與兩個參考切片做正(反)向相容比較。這樣大大增加了掃描切片與參考切片的相容概率。只要發生相容，就可以將參考切片直接并行載入內部掃描切片，不需要從外部串行載入。不僅減少了掃描周期，也減少了輸入到外部掃描切片的數據。當然，我們也需要增加額外的編碼碼字表示不同的相容情況。

MSRS方法的壓縮框架如圖3所示。假定被測電路含有N條掃描鏈，鏡像對稱的參考切片RS1、RS2分別存儲在兩個移位寄存器中。假設RS2中的數據為(r1,r2,…,rN)，則對應的RS1中數據為(rN, rN?1,…,r1)。我們將RS2參考切片稱為原參考切片，RS1參考切片稱為鏡像參考切片。當掃描切片與參考切片相容時，把對應的參考切片移入掃描鏈。當掃描切片與參考切片不相容時，先將掃描切片移入兩個寄存器中替換參考切片，然后再將替換后的原參考切片移入掃描鏈。MUX為二路選擇器，用來選擇哪一個參考切片被送入掃描鏈，隨后的異或門用來選擇正反向相容。參考切片選擇信號和正反向相容選擇信號都由有限狀態機(Finite State Machine, FSM)提供。

2.2 參考切片更新與替換

當掃描切片與參考切片相容時，根據相容關系對參考切片中無關位X進行選擇填充的過程稱為參考切片更新。為了敘述方面，進行如下定義：

圖3 MSRS壓縮結構原理圖

對長度為N的掃描切片a=(a1,a2,…,aN)，定義

根據文獻[15]，定義測試數據0, 1, X求交(∩)、求反(!)運算規則

當掃描切片SSi與原參考切片RS2i相容時，原參考切片RS2i被移入掃描鏈，同時更新參考切片RS2i+1=RS2i∩SSi(正向相容)或RS2i+1=RS2i∩(!SSi)(反向相容)，RS1i+1=RS2。當掃描切片SSi與鏡像參考切片RS1i相容時，鏡像參考切片RS1i被移入掃描鏈，同時更新參考切片RS1i+1=RS1i∩SSi(正向相容)或RS1i+1=RS1i∩(!SSi)(反向相容)，RS2i+1=RS1。當掃描切片SSi與兩個參考切片都不相容時，替換兩個參考切片RS2i+1=SSi, RS1i+1= SSiD，然后將原參考切片RS2i移入掃描鏈。

2.3 最長相容策略

根據Huffman編碼原理，通過對掃描切片與參考切片不同相容情況的出現頻率進行統計，構造出一種編碼規則，如表1所示。掃描切片與原參考切片正向相容，用標識位“0”表示；掃描切片與原參考切片反向相容，用標識位“1110”表示；掃描切片與兩個參考切片都不相容的情況，用標識位“10”表示，并且在后面附加N位的當前掃描切片；掃描切片與鏡像參考切片正向(反向)相容，用標識位“110”(“1111”)表示。

當掃描切片與參考切片只有一種相容情況時，可以直接確定編碼碼字、更新參考切片。但是當掃描切片與參考切片同時滿足多種相容情況時，選擇哪種相容情況來確定編碼碼字、更新參考切片對壓縮結果有直接影響。假設當前的原參考切片RS21=“11X10XXX”，鏡像參考切片RS11=“XXX01X 11”，當前掃描切片SS1=“1XXXXX11”，下一個掃描切片SS2=“1XX1XX01”。不難發現，SS1與RS21、RS11都正向相容。如果選擇SS1與RS21正向相容，編碼為“0”。參考切片更新為RS22=“11X10X11”, RS12=“11X01X11”。接下來掃描切片SS2與RS22、RS12做相容比較，發現不相容。SS2只能編碼為“101XX1XX01”，同時替換參考切片。如果一開始選擇SS1與RS11正向相容，編碼為“110”。參考切片更新為RS2*2=“11X10XX1”, RS2*1=“1XX01 X11”。下一個掃描切片SS2與RS2*2正向相容，編碼為“0”。顯然，后者的壓縮率更高。因此，當掃描切片與參考切片滿足多種相容情況時，應該考慮參考切片與接下來的掃描切片之間的相容性，使之后盡可能多的掃描切片與參考切片相容，減少替換操作的發生。

表1 編碼規則

MRSR方法采用的策略是以一個剛替換的參考切片為根節點，將掃描切片與參考切片不同相容情況用樹節點的方式表示，一個掃描切片的不同相容節點處于樹形結構的同一層，不同相容情況下更新的參考切片以及編碼碼字分別記錄在對應的節點中，接著取下一個掃描切片分別與上一層中不同相容節點的參考切片做相容比較，若仍然存在相容的節點則繼續取下一個掃描切片，若不存在相容的節點則說明這棵相容樹構建完成，替換參考切片作為下一棵樹的根節點。一旦構建完成一棵相容樹，就采用廣度優先搜索對這棵樹進行遍歷，找出從樹根到最后一個相容掃描切片的最少編碼碼字的路徑。為了防止計算量過于龐大，將相容樹的最大深度限制為15。若達到最大深度，仍然有節點與參考切片相容，先找出這棵樹的最少編碼碼字路徑，以最短路徑上的葉子節點作為下一個樹的根節點。全為無關位的掃描切片可以直接填充，因為全為無關位的掃描切片總是可以選擇最短編碼碼字的相容情況，并且不需要更新參考切片。我們將這個策略稱為最長相容策略(Longest Compatibility Strategy, LCS)。通過圖4所示相容樹做進一步說明，RS2 (!RS2)表示掃描切片與原參考切片正(反)向相容，RS1(!RS1)表示掃描切片與鏡像參考切片正(反)向相容。掃描切片SS1與根節點參考切片滿足3種相容情況，產生3個節點!RS21, RS11, !RS11。下一個掃描切片SS2與節點!RS21中的參考切片滿足兩種相容關系，與節點!RS11中的參考切片也滿足兩種相容關系，與節點RS11不相容，掃描切片SS2總共產生4個節點。同理下一個掃描切片SS3與SS2產生的節點做相容比較，產生3個相容節點。掃描切片SS4與上一層的節點做相容比較，產生2個相容節點。掃描切片SS5與掃描切片SS4產生的兩個節點都不相容，替換參考切片作為下一個相容樹的根節點。從掃描切片SS1到SS4有兩條路徑，一條為1?5?9?11，根據編碼規則，總共需要12位碼字；另一條為3?7?10?12，需要16位碼字。因此，最終選擇第1條路徑完成掃描切片SS1到SS4的編碼。

2.4 編碼壓縮流程

我們以表2所示為例介紹MRSR方法的編碼壓縮流程。這里，SSi表示當前掃描切片，RS2i和RS1i分別表示原參考切片和鏡像參考切片，每個切片都包含8位。Ei表示編碼后對應的碼字。

圖4 相容樹結構

編碼開始，掃描切片SS1=“11X10XXX”，參考切片RS21=RS11=“00000000”。掃描切片SS1與參考切片RS21, RS11不相容，替換參考切片RS22= SS1=“1X1XX0XX”, RS12=SS1D=“XX0XX1 X1”。采用最長相容策略確定掃描切片SS2, SS3, SS4與參考切片的相容關系，并根據編碼規則對掃描切片進行編碼。根據參考切片RS25=“11X10101”，掃描切片SS1的編碼結果E1=“1011X10101”。掃描切片SS5=“01XXXX1X”與RS25, RS15都不相容，替換后參考切片RS26=SS5=“01XXXX1X”, RS16=S=“X1XXXX10”。掃描切片SS=“X10XX

6XX1”只與RS26正向相容，SS6編碼結果E6=“0”。更新參考切片RS27=“010XXX11”，RS17=“11XX X010”，掃描切片SS5的編碼結果E5=“10010XXX 11”。至此，6個掃描切片的測試數據全部編碼完成。編碼后的碼字中仍然含有無關位X，為了減少測試功耗，可以采用隨機填充或者相鄰填充(adjacent filling)[15]方法。未壓縮的源測試集需要存儲48 bit，壓縮后只需要存儲29 bit。只有2個掃描切片需要串行加載，其它4個掃描切片可以并行加載。

3 解壓器設計

MSRS方法的解壓器結構如圖5所示，整個電路由FSM模塊、計數器模塊、門控時鐘模塊、鏡像對象參考切片、多路選擇器和異或門陣列組成。

當解壓器使能信號“Dec_en”為“1”, “Data_ in”端口開始接收數據。若掃描切片與參考切片不相容，參考切片需要更換。此時，“inc”信號為“1”，“shift”信號為“1”,“ssen”信號為“0”。計數器開始計數，“Data_rs”端將輸入數據移入參考切片。當計數到N個時鐘周期時，“rst”信號被置為“0”,“inc”,“shift”,“ssen”信號的值翻轉。一個掃描切片的輸入數據完全移入參考切片，被測電路將相應的數據移入掃描鏈。若掃描切片與參考切片正向相容則“xor”信號為“1”，反向相容“xor”信號為“0”?！皊elect”信號為“1”則選擇鏡像參考切片載入掃描鏈，“select”信號為“0”則選擇原參考切片。

表2 編碼壓縮流程

圖5 解壓器結構

FSM狀態轉換如圖6所示。S0是初始狀態，根據編碼規則，當“Data_in”輸入為“0”時，表示掃描切片與原參考切片正向相容，FSM狀態保持不變。當“Data_in”輸入為“1”時，FSM轉入S1狀態，若“Data_in”的下一時鐘周期輸入為“0”，表示掃描切片與參考切片不相容，經過N個時鐘周期后，完成參考切片的更換，FSM進入S0狀態；若“Data_in”輸入為“1”，FSM從S1狀態轉入S2狀態。接下來，若“Data_in”的下一時鐘周期輸入為“0”，表示掃描切片與鏡像參考切片正向相容，FSM進入S0狀態；若Data_in輸入為1，FSM從S2狀態轉入S3狀態。最后，FSM始終執行從S3狀態轉入S0狀態。若“Data_in”的下一個時鐘周期輸入為“0”，表示掃描切片與原參考切片反向相容；若“Data_in”輸入為“1”，表示掃描切片與鏡像參考切片反向相容。需要說明的是，MSRS方法中只有原參考切片RS2需要外部寄存器存儲，鏡像參考切片RS1并不需要直接存儲，而是通過對原參考切片RS2寄存器組進行硬布線的方式產生。

4 實驗結果與數據分析

為證實MSRS方法的有效性，對ISCAS'89中的部分大電路進行了實驗，各電路的測試激勵數據由MINTEST生成。MSRS方法的壓縮結果如表3所示，其中TD是原始測試集大小，TE是壓縮后測試集大小，#sc是劃分的掃描鏈數量，CR是數據壓縮率，CT是時間壓縮率。從表3中可以看出，時間壓縮率CT比數據壓縮率CR大，這是因為采用最長相容策略使相容情況盡量增加，而出現相容時只需要一個時鐘周期就可以將參考切片并行送入多掃描鏈，因此大大減少了測試時間。

圖6 FSM狀態轉換

表3 MSRS方法壓縮結果

表4所示為MSRS方法與單掃描鏈壓縮方法的比較，第1列為電路名稱，第2列到第5列分別為FDR[2], VIHC[3], SRLC[5]和OSHC[4]的壓縮率，最后一列為本文方法的壓縮率。從實驗結果可以看出，MSRS方法中只有電路S38417的壓縮率低于其他方法，這是由電路S38417測試集的數據特征決定的。一方面是因為電路S38417測試集中無關位X的比例只有68%，是所有實驗電路中最低的；另一方面是因為電路S38417測試集中相鄰切片間的相容性較差，參考切片需要經常替換。由于這兩方面的影響導致電路S38417的壓縮率低于其他方法。在平均壓縮率方面，MSRS方法比FDR碼高11.92%，比VIHC碼高8.13%。

表5所示為MSRS方法與其他多掃描鏈壓縮方法的比較，#sc表示劃分的掃描鏈數量，CR表示百分比壓縮率。文獻[11]中方法只采用了一個參考切片。文獻[12]中提出了掃描切片之間的多層復制方法。本文的方法采用了兩個參考切片，采用最長相容策略，平均壓縮率比文獻[11]高6.01%，比文獻[12]高1.94%。

測試功耗是集成電路測試技術中另一個重要的問題。我們采用電路的加權跳變度量[16](WeightedTransition Metric, WTM)模型來評估功耗。設掃描鏈長度為l，測試向量tj=(aj,1,aj,2,…,aj,l)，則向量tj的WTM值為

電路名稱 FDR[2]VIHC[3]SRLC[5]OSHC[4]MSRS S5378 48.02 51.78 54.85 57.5 60.41 S9234 43.59 47.25 57.46 57.7 60.45 S13207 81.30 83.51 86.07 84.5 87.66 S15850 66.22 67.94 69.99 70.4 72.50 S38417 43.26 53.36 64.50 62.8 60.65 S38584 60.91 62.28 62.86 68.0 73.15平均 57.22 61.01 65.96 66.8 69.14

表5 MSRS方法與多掃描鏈壓縮方法的比較

對于含有n個測試向量的測試集，其平均功耗WTMavg和峰值功耗WTMpk分別為

針對MINTEST測試集，表6列出了FDR編碼與MSRS方法的測試功耗比較結果。FDR編碼的測試功耗是MSRS方法的13倍之多，這是由于MSRS方法采用的是多掃描鏈結構，縮短了掃描鏈長度，使得功耗計算公式中的權值(l?i)大大減小。MSRS方法作為一種多掃描鏈壓縮方法，在測試功耗方面與單掃描鏈壓縮方法相比有明顯優勢。

5 結論

針對近年來集成電路測試中測試數據顯著增加的問題，本文提出一種基于鏡像對稱參考切片的多掃描鏈數據壓縮方法。該方法充分利用了掃描切片與參考切片之間的相容性，采用兩個相互鏡像對稱的參考切片與掃描切片做相容性比較，從而提高了掃描切片與參考切片的相容概率，減少了參考切片的替換頻率。不僅取得了較高的壓縮率，而且大大減少了測試應用時間和測試功耗。

表6 測試功耗比較(加權跳變度量)

[1] Touba N A. Survey of test vector compression techniques[J]. Design & Test of Computers, 2006, 23(4): 294-303.

[2] Chandra A and Chakrabarty K. Test data compression and test resource partitioning for system-on-a-chip using frequency-directed run-length (FDR) codes[J]. IEEE Transactions on Computers, 2003, 52(8): 1076-1088.

[3] Gonciari P T, AI-Hashimi B M, and Nicolici N. Variablelength input huffman coding for system-on-a-chip test[J]. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2003, 22(6): 783-789.

[4] Kavousianous X, Kalligeros E, and Nikolos D. Optimal selective huffman coding for test-data compression[J]. IEEE Transaction on Computers, 2007, 56(8): 1146-1152.

[5] 詹文法, 梁華國, 時峰, 等. 一種共游程碼的測試數據壓縮方法[J]. 計算機研究與發展, 2008, 45(10): 1646-1653.

Zhan Wen-fa, Liang Hua-guo, Shi Feng, et al.. A scheme of test data compression based on sharing run length code[J]. Journal of Computer Research and Development, 2008, 45(10): 1646-1653.

[6] 馬會, 鄺繼順, 馬偉. 基于一位標識的測試向量混合編碼壓縮方法[J]. 電子測量與儀器學報, 2013, 27(4): 312-318.

Ma Hui, Kuang Ji-shun, and Ma Wei. Hybrid coding compression method of test vector based on an identification [J]. Journal of Electronic Measurement and Instrument, 2013, 27(4): 312-318.

[7] Sismanoglou P and Nikolos D. Input test data compression based on the reuse of parts of dictionary entries: static and dynamic approaches[J]. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 2013, 32(11): 1762-1775.

[8] Sismanoglou P and Nikolos D. Test data compression basedon reuse and bit-flipping of parts of dictionary entries[C]. Proceedings of 17th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, Warsaw, Poland, 2014: 110-115.

[9] 劉杰, 易茂祥, 朱勇. 采用字典詞條衍生模式的測試數據壓縮[J]. 電子與信息學報, 2012, 34(1): 231-235.

Liu Jie, Yi Mao-xiang, and Zhu Yong. Test data compression using entry derivative mode of dictionary[J]. Journal of Electronics & Information Technology, 2012, 34(1): 231-235.

[10] Han Yin-he, Hu Yu, Li Hua-wei, et al.. Ripad and energyefficient testing for embedded cores[C]. Proceedings of 13th IEEE Asian Test Symposium, Washington DC, USA, 2004: 8-13.

[11] Ruan X and Katti R. An efficient data-independent technique for compressing test vectors in systems-on-achip[C]. Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on Emerging VLSI Technologies and Architectures, Karlsruhe, Germany, 2006: 153-158.

[12] Lin Shih-ping, Lee Chunag-len, Chen Jwu-e, et al.. A multilayer data copy test data compression scheme for reducing shifting-in power for multiple scan design[J]. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration(VLSI) Systems, 2007, 15(7): 767-776.

[13] Tyszer J, Filipek M, Mrugalski G, et al.. New test compression scheme based on low power BIST[C]. Proceedings of 18th IEEE European Test Symposium, Avignon, France, 2013: 1-6.

[14] Chloupek M, Jenicek J, Novak O, et al.. Test pattern decompression in parallel scan chain architecture[C]. Proceedings of 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems, Karlovy Vary , Czech Republic, 2013: 219-223.

[15] Yi Mao-xiang, Liang Hua-guo, Zhang Lei, et al.. A novel x-ploiting strategy for improving performance of test data compression[J]. IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2010, 18(2): 324-329.

[16] Sankaralingam R, Oruganti R P, and Touba N A. Static compaction techniques to control scan vector power dissipation[C]. Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium, Montreal, Canand, 2000: 35-40.

鄺繼順： 男，1959年生，博士，教授，研究方向為集成電路測試與設計、嵌入式系統.

劉杰鏜： 男，1989年生，碩士，研究方向為集成電路測試.

張 亮： 男，1989年生，碩士，研究方向為集成電路測試.

Test Data Compression Method for Multiple Scan Chain Based on Mirror-symmetrical Reference Slices

Kuang Ji-shun Liu Jie-tang Zhang Liang
(College of Information Science & Engineering, Hunan University, Changsha 410082, China)

In order to reduce test data and test time, a test data compression method for multiple scan chain which bases on mirror-symmetrical reference slices is proposed. This method uses two mutually mirror-symmetrical reference slices for compatibility comparison with scan slice, that improves the compression ratio. If the scan slice is compatible to one of the reference slices, only a few bits are needed to encode it and can be loaded in parallel. Otherwise, the scan slice will replace one reference slice. A longest compatibility strategy is proposed when the scan slice and reference slice satisfy more compatible relationship. It can further improve the test compression ratio to determine the code word according to the different compatibility frequency statistics situations. The experimental results show that the average compression rate of the proposed scheme reaches 69.13%.

Test data compression; Multiple scan chain; Compatibility; Reference slice; Scan slice

TP302

： A

：1009-5896(2015)06-1513-07

10.11999/JEIT141146

2014-09-02收到，2014-12-23改回

國家自然科學基金(61472123, 60673085)資助課題

*通信作者：劉杰鏜 liujietang126@163.com