蔚文婧等
摘 要 高濃度胞外K+會引起神經元的去極化、谷氨酸釋放、甚至細胞死亡。為研究高濃度K+對在體神經元的影響,采用微機電系統(MEMS)方法制作了一種植入式微電極陣列(MEA),其上包含形狀、位置固定的電化學(50 × 150 μm)和電生理(直徑為15 μm)檢測位點,可同時進行腦內神經遞質谷氨酸、局部場電位信號(LFP)雙模檢測。將這種MEA植入到大鼠紋狀體后,給大鼠皮層施加高濃度K+刺激,結果表明, 高鉀刺激增加了紋狀體內谷氨酸濃度,同時抑制了神經電生理活動。這是首次采用雙模MEA研究神經元在體死亡過程,結果驗證了雙模微電極陣列在體檢測的可行性,可用于研究腦內神經電化學、電生理的時空關系。
關鍵詞 微機電系統; 植入式微電極陣列; 腦死亡; 高鉀; 谷氨酸; 局部場電位