恒牙初期安氏Ⅱ1類錯畸形顱底形態特征的分析

李 欣 荊 璇 薛美榮 馬艷寧 武秀萍*

（大連醫科大學附屬大連市兒童醫院口腔科，遼寧 大連 116021）

顱面復合體由腦顱、面顱和顱底三部分組成，顱底作為顱面復合體的組成部分，是面中部發育的主要支持結構[1-2]。Bj?rk提出顱底結構決定上下頜骨的位置關系，認為錯畸形的發生與顱底結構差異有關[3]。因此顱底結構的特征一直受到正畸學者的關注。當顱底的生長發育出現異常時，可能引起骨性錯的發生或加重錯畸形的程度。所以，了解顱底的形態特征，有助于早期診斷和預測牙頜面畸形的發生、發展和預后，為確立正確的矯治計劃奠定良好的基礎。

1 材料與方法

1.1 病例采集：按照納入標準隨機挑選出在12～14歲年齡段的80例患者，男女各半，包括安氏Ⅰ類均角組、安氏Ⅱ1類高角組、安氏Ⅱ1類低角組、安氏Ⅱ1類均角組。納入標準：①安氏Ⅰ類：磨牙、尖牙中性關系，前牙覆牙合覆蓋正常，0o≤ANB≤4o，均角（22o＜FH-MP＜32o；29o＜SN-MP＜40o）；安氏Ⅱ1類：兩側磨牙遠中關系，ANB角＞4°。②根據上下頜骨垂直向關系將安氏Ⅱ1類分為高角組（SNMP＞40o；FH-MP＞32o）、均角組（22o＜FH-MP＜32o；29o＜SN-MP＜40o）、低角組（FH-MP＜22°；SN-MP＜40°）。③安氏Ⅱ1類、安氏Ⅰ類患者其牙合型和骨型一致。④漢族身體健康，上下頜骨發育無異常，無顳頜關節病史，無影響口頜系統發育的疾病，面部左右對稱、無外傷史。⑤未接受過正畸治療；⑥恒牙初期，第二磨牙已經萌出，無先天缺牙及拔牙史。

1.2 主要儀器及設備：頭顱定位X線攝影儀 (SIEMENS公司，German)，Winceph8.0頭影測量分析軟件（日本Rise株式會社編制）。

1.3 研究方法

1.3.1 頭顱側位片的拍攝：①所有患者均由我院放射科同一位熟練技師，以頭顱定位儀嚴格定位，在相同條件下拍攝。②患者取站立位，兩眼平視前方松，受試者的頭部在頭顱定位儀的嚴格定位下輕咬在牙尖交錯位，面部放松，矢狀面與暗盒平行。

1.3.2 確定標記點及參考平面：將頭顱側位片導入到Winceph8.0測量軟件。頭影測量定點均由同一研究者不同時間重復測量3次，取3次測量結果均值。所有測量數據使用Winceph8.0軟件中同一校對標尺，最后將測量數據導入Excel表格。

1.3.3 顱底相關測量項目：包括：S-N，S-Ba，N-Ba，N-S-Ba，S-Ar-Go關節角，SN-FH，SBa-FH，Ba-SE-FMS，Ba-SE-PM，CF-PM，S-N-A，S-N-B，A-N-B。

1.3.4 統計學處理：使用SPSS17.0軟件，采用單因素t檢驗及LSD兩兩比較的方差分析分別對安氏Ⅱ1類均角和安氏Ⅰ類均角兩組間及安氏Ⅱ1類高角組、低角組、均角組三組的13項頭影測量數據進行統計分析，以α=0.05作為檢驗水準，以P＜0.05認為差異有顯著性，P＜0.01認為差異有高度顯著性。

2 結 果

安氏Ⅱ1類后顱底長（S-Ba），前顱底長（S-N）、全顱底長（Ba-N）均大于安氏Ⅰ類具有統計學意義。安氏Ⅱ1類錯與安氏Ⅰ類錯相比，顱前基底角（CF-PM），顱中基底角Ba-SE-PM，后顱底平面角SBa-FH，均有顯著的統計學差異。安氏Ⅱ1類錯的顱前基底角CF-PM，后顱底平面角SBa-FH均小于安氏Ⅰ類錯；安氏Ⅱ1類錯的顱中基底角（Ba-SE-PM）和顱基底角（Ba-SE-FMS）均大于安氏Ⅰ類錯。安氏Ⅱ1顱底角（N-S-Ba）及前顱底平面角SN-FH與安氏Ⅱ1類與安氏Ⅰ類差異無統計學意義。在出生后至2歲期間[4]。Lewis和Roche認為顱底生長有青春快速增長期，且男女間有性別差異，女性顱底在11～13歲發育完成95%，男性較女性晚，到17歲以后仍有生長[5]。本研究選取12～14歲恒牙初期兒童患者，男女各半，以減少年齡及性別差異引起的測量誤差。關于顱底軟骨的生長方式有的學者認為主要由基因決定，較少受到環境因素的影響[6]。也有研究認為顱底結構正常的標準應該考慮種族的差異，亦即顱底的發育形態與種族相關[7]。

Bj?rk認為顱底結構決定上下頜骨的位置關系，提出顱底結構差異與錯畸形的發育有關。本研究發現安氏Ⅱ類顱底角與安氏Ⅰ類無顯著性差異。為此本研究對安氏Ⅱ1類組與安氏Ⅰ類組顱底長度進行了

3 討 論

顱面復合體由腦顱、面顱和顱底三部分組成。顱底部在生長發育過程中，受到頜骨一般性生長發育和腦部的神經型生長發育的共同影響。Brenda對顱底的生長進行縱向研究，發現顱底最快速的增長發生研究，結果顯示后顱底長（S-Ba）、全顱底長（Ba-N）均大于安氏Ⅰ類，前顱底長（S-N）小于安氏Ⅰ類，具有統計學意義。顱底長度二者表現為顯著差異一方面由于安氏Ⅱ類、Ⅰ類矢狀向比較均選擇垂直向發育無異常的均角患者，一定程度排除了顱面部通過垂直向生長以代償矢狀向異常生長的情況，另一方面本研究結果可以看到安氏Ⅱ類錯與安氏Ⅰ類錯相比，除了表現為顱底長度的差異，顱前基底角CF-PM，顱中基底角Ba-SE-PM，后顱底平面角SBa-FH，二者均有顯著的統計學差異。安氏Ⅱ類錯的顱前基底角CF-PM，后顱底平面角SBa-FH均小于安氏Ⅰ類錯；而安氏Ⅱ1類錯的顱中基底角和后顱底長卻大于安氏Ⅰ類錯。

顱底及顱基底形態對安氏Ⅱ1類矢狀向，垂直向畸形的形成均有重要影響。矢狀向主要表現在后顱底長度及前顱底的傾斜度的改變。而顱底及顱基底的角度在安氏Ⅱ1垂直向上起一定作用。