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市場經濟下JF公司制造過程質量問題改善研究
——以燈珠焊線為例

2019-12-21 12:43陳佳
大眾投資指南 2019年8期
關鍵詞:燈珠芯片支架

陳佳

(桂林電子科技大學,廣西 桂林 541000)

一、JF公司簡介

JF公司于2005年成立,2012年3月19日在深圳證券交易所正式掛牌上市。JF公司主要從事SMD LED器件的生產、銷售與研發,該公司產品主要涉及照明LED、背光LED、車用LED、燈條產品及小間距顯示LED等全系列LED器件產品,其器件產品主要應用于照明、顯示屏、汽車電子等領域及TV、電腦、手機等消費類型的電子產品中[1]。目前形成了以照明LED和背光LED為基礎,開展車用LED、小間距顯示LED、光器件、光學膜及其他高端型封裝等新業務,向實現“成為令人尊敬的世界級優秀企業”的偉大目標而不斷努力。

二、JF公司燈珠焊線質量管理存在的問題分析

(一)統計表分析

經過技術部人員和工程部人員的分析,造成燈珠死燈的原因集中在焊線斷裂、芯片和支架不良、分光混料、原材料出錯、固晶層剝離、來料異常等幾個方面,為了分析目前造成燈珠死燈的主要原因,根據公司客戶服務部2017年客戶投訴的數據[2],對數據進行分類和統計,問題的分類主要是焊線斷裂、芯片和支架不良、分光混料、固晶層剝離、來料異常5個方面的項目。

(二)排列圖分析

運用排列圖進一步分析,排列圖通常把問題分為三個類別:主要或者關鍵問題為A類,約占80%左右;B類累計百分比約占80%-90%左右,屬于次要問題;累計百分比在90%以上的屬于C類,為更次要問題,對質量影響很小[3]。從燈珠死燈不良排列圖中可以得出以下結論:焊線斷裂是造成燈珠死燈的關鍵問題,芯片、支架不良屬于次要問題。芯片、支架不良屬于物料問題,只要加強并規范來料檢驗流程、與供應商加強溝通,就能解決大部分物料不良問題,而且物料不良問題也列入另一個QC小組活動,所以焊線斷裂是此次研究分析的重點問題。

(三)因果圖分析

運用因果圖進一步分析,解決的主要問題是引起焊線斷裂的因素有四類,即一焊抬起(松脫)、二焊抬起(松脫)、B點斷裂、D點斷裂。

(四)要因歸類

通過因果圖的分析,得出影響燈珠焊線質量問題的因素為:調機品流程不完善、PLASSMA清洗參數不合理、監控標準不合理、支架預熱條件、芯片異常(易吸附膠氣)、線弧受損、線弧前傾后仰、線弧控制方式異常、魚尾張開和受損。

三、燈珠焊線質量問題改善研究

(一)設定改善目標和改善計劃

通過本文燈珠生產質量問題現狀分析,確定項目的最高目標就是減少LED死燈數量,降低公司客訴率,接著進一步分析問題的關鍵再到原因分析過程后,確定近期的目標為減少焊線死燈次數,提高焊線質量。通過因果圖和主要原因分析過程發現:引起焊線斷裂的原因主要在這幾個方面:工藝參數、標準的優化、不良處理流程、過程缺少監控等方面,針對這幾個方面的原因并結合要因提出改善計劃表。

(二)燈珠焊線斷裂整體改善

調機品不良流出的改善,采取全測的檢驗方式,并增加風險評估項目,即將推拉力測試合格的調機品進行可靠性試驗,同時針對調機品制定了《調機品處理規范》;各類產品的調劑品直接使用黑色漆筆把不良區域標示出來,碗杯里面保證涂到墨,預防流入到后面的制程或者客戶端。Plasma(等離子)清洗的改善,引入達因筆,用更科學的方式進行監測,材料清洗過后用達因筆畫過后,劃痕均勻分布且不會擴散則表示清洗干凈。

(三)一焊抬起的改善

重點背光產品建立CPK能力監控,明確CTQ(品質關鍵點)管控項目,使用質量分析工具統計分析數據的分布狀態及CPK能力,并建立檢討分析機制標準流程,即當過程數據控制圖出現異?;蛘吖ば蚰芰χ笖抵滴催_到1.33時,要進行CPK異常反饋及分析流程。支架預熱條件的梳理改善,梳理了物料導入系統的流程,即在支架試產表單加入支架材質、預熱溫度要求,支架轉產后列入文件管控和系統,經過不斷的實驗和分析,PCT材質支架由原來130℃烘烤1小時更改為170℃烘烤1小時。

(四)二焊抬起的改善

一是支架預熱條件的梳理改善,梳理了物料導入系統的流程,即在支架試產表單加入支架材質、預熱溫度要求,支架轉產后列入文件管控和系統,經過不斷的實驗和分析,PCT材質支架由原來130℃烘烤1小時更改為170℃烘烤1小時。二是,芯片膠氣污染改善,前期進行烤箱清潔保養、烤箱排風提速、烤箱容量、固晶膠量等方面的改善后,膠氣污染造成的不良率約40%,因為改善效果不明顯,不良率還是偏高,所以后期公司再次組織改善團隊進行改善驗證,重新進入下一個PDCA循環。

(五)B點斷裂改善

主要針對沉杯長線弧產品線弧模式的改善,7020產品線弧使用的S線弧,而該產品是弧跨距較長的一種產品型號(跨芯片比例超過二分之一),S線弧具有一個平臺弧,在較長的弧跨距的情況下使用S線弧模式容易造成平臺弧的區域內產生更大的應力,導致B點受力過大,從而造成B點斷裂而死燈。將7020產品線弧改為M線弧模式,M線弧在線弧的平臺區域內增加B點應力的緩沖點,降低B點受力。

(六)D點斷裂改善

針對中尺寸產品線弧模式的改善,中尺寸產品使用Q線弧模式(三角線?。?,在該類型線弧模式下金線的抗應力能力較差,容易造成D點的沖擊,且塌線后容易接觸芯片表面。使用S線弧模式,S線弧模式增加放線長度,緩解應力的形變拉扯,在惡劣的環境下不易造成金線斷裂。首件檢驗增加魚尾寬度確認,將魚尾寬度確認納入首件檢驗及巡檢項目內。

四、結論

經過實施改善計劃后,對燈珠焊線死燈數量進行統計分析,并與改善前的燈珠焊線死燈件數進行比較,平均焊線死燈率降低了62%,焊線質量得到了較大的提高。ORT試驗死燈比例明顯下降,說明經過了實施焊線改善措施后,影響焊線質量問題的主要因素已經得到了很好的控制,整體上提高了焊線站的產品質量,為公司創造了較好的價值。同時也加強了全員參與質量管理氛圍,更加重視客戶投訴率,提高了生產效率,改善了產品質量。

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